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Metric Arts participó del Seminario BAFI 2017
Publicado por pcofre
el martes 30 de mayo de 2017
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El día Viernes 26 de Mayo, Metric Arts participó como expositor en el seminario BAFI 2017 organizado por el ISCI de la facultad de Ingeniería de la U. de Chile. En la ocasión, nuestro CEO Patricio Cofre, junto a Sebastián Elgueta CIO de la Superintendencia del Medio Ambiente (SMA), presentaron el caso: El Potencial del Internet de las Cosas (IoT): Caso de Fiscalización Ambiental en Chile, donde repasaron algunas de las características del uso que la SMA le está dando al IoT.

Además de esto, Metric Arts participó de la exposición, presentando sus soluciones de Video Analytics. Más información en el LINK del evento.

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Dos objetivos: Aumentar Valor y Reducir Riesgo

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